AFM

AFM, Atomic Force Microscope, mikroskop, hvis virkemåde er baseret på måling af en elektrisk kraft på det atomare niveau mellem en skarp nålespids og overfladen af en prøve, som forskydes i forhold til nålen. Kraften er stærkt afhængig af afstanden mellem nålen og overfladen og bliver derved et mål for overfladens konturer. Nålen er monteret på en blød, bøjelig fjeder, og billeder optages ved at måle fjederens afbøjning under prøvens forskydning. Resultatet er en topografisk afbildning af overfladen med atomar opløsning.

Med dette mikroskop, der blev udviklet i 1986, kan der måles afstandsafvigelser ned til 1/100 nm. I modsætning til det beslægtede scanning-tunnelmikroskop måles der ved AFM ikke strøm mellem nålespidsen og prøven, hvilket bevirker, at ikke alene metallers og halvlederes, men også isolatorers overflader kan opmåles. Overflader af organiske materialer, store biologiske molekyler, polymerer, keramiske materialer og glas kan vha. AFM afbildes under forskellige vilkår, herunder ved forskellige temperaturer. Ud over morfologien kan elektriske, mekaniske, optiske og kemiske egenskaber ved overflader og grænselag måles ved teknikker baseret på AFM. Metoden har fundet stor udbredelse inden for materialeteknologi.